검출 항목
핀홀, 이물, 스크래치, 얼룩 등
주요 기능
-표면 결함 검사 + 비접촉 두께 측정 통합 구성
-라인스캔 기반 고속 영상 처리 + 광학식 두께 센서 병렬 배치
-고해상도 이미지 분석으로 미세 결함(≥30 μm) 정밀 검출
-검사 결과를 롤맵/통계로 저장 및 자동 리포트화
-라인스캔 기반 고속 영상 처리 + 광학식 두께 센서 병렬 배치
-고해상도 이미지 분석으로 미세 결함(≥30 μm) 정밀 검출
-검사 결과를 롤맵/통계로 저장 및 자동 리포트화
주요 특징
-필름, 코팅재 등의 생산 라인에서 이물, 스크래치, 얼룩 등의 표면 결함과 두께 이상을 하나의 시스템으로 동시에 검사하는 통합형 인라인 비전 검사 장비
-한 공정 라인에서 검사 장비를 이중으로 설치할 필요 없이, 하나의 시스템으로 정확한 외관 검사와 실시간 정밀 계측을 동시에 수행할 수 있어, 설비 공간 절약과 품질 관리 효율 극대화를 동시에 실현
-모델에 따른 티칭 및 검사 조건 설정, 검사 및 데이터 저장 & 레포트, 불량별 분류 및 알람, 불량 타입별 통계 기능 등
-한 공정 라인에서 검사 장비를 이중으로 설치할 필요 없이, 하나의 시스템으로 정확한 외관 검사와 실시간 정밀 계측을 동시에 수행할 수 있어, 설비 공간 절약과 품질 관리 효율 극대화를 동시에 실현
-모델에 따른 티칭 및 검사 조건 설정, 검사 및 데이터 저장 & 레포트, 불량별 분류 및 알람, 불량 타입별 통계 기능 등
제품 사양
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항목 |
사양 |
비고 |
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카메라 |
6K Line Scan |
X2
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해상력 |
42 ㎛ / pixel @ 500mm |
Customizable
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조명 |
Top & Bottom LED Bar Light |
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검사 항목 |
미코팅 / 핀홀 / 오염 등 |
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두께측정 범위 |
0.5 ∼ 60 um |
±1.00%
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Wavelength |
Visible / NIR |
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Sampling Rate |
Up to 40 times/sec |
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Light Source Lamp |
Tungsten Halogen |
6,000 hours
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PLC 연동 |
Ethernet or DIO |
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검사 속도 |
Up to 140m/min |
기본 사양
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Option |
External Encoder / Labeler |
